ผู้ประกอบและทดสอบเซมิคอนดักเตอร์รายใหญ่
ตรวจข้อบกพร่องเวเฟอร์ × ทวนสอบ AOI
ตรวจจับเร็วขึ้น 5 เท่า ตัดสินผิดลดลง 70%
Pain Points
ปัญหาที่ลูกค้าเผชิญ
- ข้อบกพร่องหลายสิบแบบ ทวนสอบด้วยคนช้าและเกณฑ์ไม่ตรงกัน
- โหนดการผลิตเล็กลง การตรวจด้วยแสงแบบเดิมตามไม่ทัน
- วิศวกรอาวุโสติดงานทวนสอบซ้ำ จนไม่มีเวลาพัฒนากระบวนการ
Results
ผลลัพธ์หลังนำไปใช้
- AI ตรวจจับและจำแนกข้อบกพร่องอัตโนมัติ เร็วขึ้น 5 เท่า
- ตัดสินผิดลดลง 70% วิศวกรโฟกัสเฉพาะล็อตที่ผิดปกติจริง
- ติดตั้งแบบ on-premises ข้อมูลไม่ออกนอกโรงงาน
ดูโซลูชันของเคสนี้
