Một nhà máy đóng gói và kiểm thử bán dẫn lớn
Kiểm tra lỗi wafer × tái kiểm AOI
Nhận diện nhanh gấp 5 lần, báo sai giảm 70%
Pain Points
Bài toán khách hàng
- Hàng chục dạng lỗi, tái kiểm thủ công chậm, thiếu nhất quán
- Tiến trình ngày càng nhỏ, kiểm tra quang học cũ khó đáp ứng
- Kỹ sư lâu năm mất thời gian tái kiểm, khó tập trung cải tiến
Results
Hiệu quả triển khai
- AI tự động nhận diện, phân loại lỗi, hiệu suất tăng 5 lần
- Báo sai giảm 70%, kỹ sư chỉ xử lý lô thật sự bất thường
- Triển khai tại chỗ (on-premises), dữ liệu không rời nhà máy
Xem giải pháp của dự án này
